CTO-Blog: Vorhersage der Zuverlässigkeit integrierter Schaltkreise basierend auf Ausfallphysikmodellen in Verbindung mit Feldstudien

Vorhersage der Zuverlässigkeit integrierter Schaltkreise basierend auf Ausfallphysikmodellen in Verbindung mit Feldstudien Die Zuverlässigkeit von Mikroelektronikgeräten hat sich mit jeder Technologiegeneration verbessert, während sich die Dichte der Schaltkreise ungefähr alle 18 Monate weiter verdoppelt. Wir haben Felddaten untersucht, die aus einer großen Flotte von Mobilkommunikationsprodukten stammen, die über einen…