Newsletter May 2023

We study our customers day by day and make sure their needs are met using the solutions we provide. From this knowledge, we produce special packages and unique promotions tailored to our customers’ needs. Here are our spring promotions. Just before these special offers go online, you get a first glimpse: After various new requirements…

FTA traditional view

Newsletter Juli 2019

Die Zukunft der Sicherheitsanalyse wird mit einem von BQR entwickelten Softwaretool einfacher. Kritische Systeme / Produkte verfügen häufig über Schutzschichten, Fehlertoleranz und Redundanzen, um schwerwiegende Sicherheitsereignisse zu vermeiden. Um die Eintrittswahrscheinlichkeit von Sicherheitsereignissen zu berechnen, müssen Kombinationen von Unterereignissen berücksichtigt werden. Die Fehlerbaumanalyse (FTA) ist…

Newsletter April 2019

Erfahren Sie, wie Sie den nächsten Konstruktionsfehler vermeiden können, indem Sie das EDA-Plug-in BQR fiXtress verwenden. Altium OnTrack hat mit Judy Warner Yizhak Bot, CTO von BQR Reliability Engineering, zum fiXtress SW-Tool interviewt, mit dem Hunderte von Unternehmen weltweit Geld bei der Verkürzung des Designs sparen konnten Zyklus ihrer Produkte und Reduzierung der Integration…

Newsletter November 2018

Wie berechnet man die RAID-Zuverlässigkeit? RAID-Festplattenarrays (Redundant Array of Independent Disks) sind in kritischen Dateninfrastrukturen weit verbreitet. Das Grundprinzip von RAID besteht darin, Datenredundanz so hinzuzufügen, dass kein größerer Datenverlust auftritt, wenn ein fehlerhafter Sektor auftritt oder selbst wenn eine ganze Festplatte ausfällt. Die Frage ist: wie ...

Newsletter Juni 2017

BQR präsentiert auf der ESREL 2017: „Efficient Reliability Engineering in UAVs und komplexen Designs“ Präsentationsbeschreibung: Obwohl es viele Methoden und Standards für die RAMS-Analyse gibt, ist nicht immer klar, wie sie in den Designprozess komplexer Produkte wie UAVs integriert werden können. In dieser praktischen Präsentation werden wir eine einzigartige Fallstudie über…