Elektronik-Industrie

Die Elektronikindustrie ist eine der größten globalen Industrien. Fast alle künstlichen Geräte enthalten Elektronik zur Erfassung, Steuerung, Bedienung und Betätigung.
Die Elektronikindustrie ist hart umkämpft, und OEMs haben es schwer, qualitativ hochwertige Produkte mit kurzer Markteinführungszeit herzustellen.
Der klassische Weg, um Produktzuverlässigkeit zu erreichen, besteht darin, beschleunigte Lebensdauertests in spezialisierten Labors durchzuführen. Diese Tests verbrauchen jedoch viel Zeit und Geld.
Verbesserung der Zuverlässigkeit und Robustheit von Produkten durch Simulation

 

BQR bietet Software und Services zur Beseitigung von Schaltungsentwurfsfehlern während der Entwurfsphase. Dies wird erreicht durch:

  • Berechnung der elektrischen Spannungen für jede Komponente (Leistung, Spannung, Strom und Temperatur) mit dem fiXtress-Schaltungssimulator von BQR
  • Derating-Analyse für elektronische Komponenten basierend auf den obigen Spannungsergebnissen
  • Automatisierte erweiterte DRC und ERC (Design Rule Check & Electrical Rules Check), die versteckte Designfehler erkennen
  • Automatisierte Überprüfung und Analyse von Schaltplänen und Konstruktionen durch elektrische Spannungssimulation

 

Analyse und Verbesserung der Produktsicherheit

Elektronische Geräte bieten wichtige Funktionen, und Geräteausfälle können zu erheblichen Schäden am Gerät und sogar zum Verlust von Menschenleben führen.
Es gibt Standardmethoden für die Sicherheitsanalyse elektronischer Schaltkreise, einschließlich FMEA / FMECA (Fehlermodus-Effektanalyse) und FTA (Fehlerbaumanalyse).
BQR bietet Software und Dienstleistungen für die Sicherheitsanalyse elektronischer Schaltkreise bis auf Komponentenebene an. Die BQR-Software enthält Plug-in-Module für gängige eCAD-Systeme, mit denen Konstruktionsdaten automatisch direkt und gleichzeitig vom Konstruktionsempfang empfangen werden. Dies spart Zeit und Geld und verkürzt den Konstruktionszyklus.

BQR bietet die folgende Software und professionelle Dienstleistungen

Bauteilbelastungsanalyse, Schaltplanüberprüfung, Designanalyse und Erkennung von Designfehlern bei elektronischen Produkten

Komponenten-Derating und MTBF-Berechnung

Testbarkeitsanalyse der optimalen BIT- (Built In Test) und ATE-Funktionen (Automatic Test Equipment) zur Erkennung und Isolierung von Fehlern

Zuverlässigkeits-, Verfügbarkeits-, Wartbarkeits- und Sicherheitsbewertungen (RAMS) gemäß militärischen Standards

Wartungs- und Logistikoptimierung für Perimetergeräte, die über große Entfernungen verteilt sind

Statistische Analyse der Komponentenfehlerverteilung basierend auf der Fehlerhistorie