Blog de CTO: Predicción de confiabilidad de circuito integrado basada en modelos de física de falla en conjunto con estudio de campo

Predicción de confiabilidad de circuito integrado basada en modelos de fallas físicas junto con estudios de campo La confiabilidad del dispositivo de microelectrónica ha mejorado con cada generación de tecnología, mientras que la densidad de los circuitos continúa duplicándose aproximadamente cada 18 meses. Estudiamos los datos de campo recopilados de una gran flota de productos de comunicaciones móviles que se desplegaron en un ...