Predicción de confiabilidad de circuito integrado basada en modelos de física de falla en conjunto con estudio de campo

La fiabilidad de los dispositivos de microelectrónica ha mejorado con cada generación de tecnología, mientras que la densidad de los circuitos continúa duplicándose aproximadamente cada 18 meses. Estudiamos los datos de campo recopilados de una gran flota de productos de comunicaciones móviles que se implementaron durante un período de 8 años para examinar la tendencia de confiabilidad en el campo. Extrapolamos la tasa de falla esperada para una serie de microprocesadores y encontramos una tendencia significativa por la cual la tasa de falla del circuito aumenta aproximadamente la mitad de la tasa de la tecnología, aumentando aproximadamente en ese mismo período de 18 meses.