La simulación incluye varias capas para cubrir todos los tipos de fallas potenciales, de la siguiente manera:

• Cálculos automatizados de parámetros operacionales eléctricos como voltaje y corriente para cada pin de circuito integrado, red y pad. Realizar un análisis de reducción de potencia de los componentes y proporcionar restricciones eléctricas para el siguiente paso
• Diseño automatizado y análisis esquemático que prueba todos los circuitos integrados y semiconductores y compara las restricciones eléctricas anteriores con los requisitos de las hojas de datos de los componentes.
• Proporciona un análisis de tensión eléctrica completo y una reducción de potencia para evitar una tensión excesiva y un diseño excesivo
• Ayuda a seleccionar el tamaño / clasificación óptimos de los componentes para la temperatura operativa
• Calcule el MTBF y proporcione datos precisos de tensión eléctrica de por vida (probabilidad de fallas frente al tiempo) y física de fallas: PoF
• Modos de falla de componentes automatizados y análisis de seguridad (FMEA / FMECA / FTA)
• El análisis incluye fallas de hardware y software electrónicos
• Guiar el plan de prueba de verificación final
• Genere automáticamente todos los informes de normas IEC / ISO para las autoridades
• Informes a nivel de componentes, placas y sistemas en las primeras etapas de diseño

Características unicas:

• La nueva simulación está integrada con las principales herramientas de E-CAD como Altium, OrCAD y Mentor
• Todos los datos relacionados con la simulación están integrados en la base de datos esquemática, por lo que si hay un cambio de diseño, se puede hacer fácilmente.
• Los datos están organizados en bibliotecas para una fácil reutilización

A continuación, se muestra un error de diseño de ejemplo que se identificó utilizando el software de simulación de BQR:

En la siguiente figura, el transistor Q1 proporciona una entrada digital al pin 40 de U1. Debe estar por encima de 2,3 V para la lógica "1" y por debajo de 1,0 V para la lógica "0".
Pero Q1 proporciona 1.052V que U1 interpretará de forma intermitente como "1" o "0".
Este error de diseño da como resultado una funcionalidad U1 inestable que es difícil de detectar y aislar.