La simulation comprend plusieurs couches pour couvrir tous les types de défaillance potentiels, comme suit:

• Calculs automatisés des paramètres de fonctionnement électrique tels que la tension et le courant pour chaque broche, filet et pastille IC. Effectuer une analyse de déclassement des composants et fournir des contraintes électriques pour l'étape suivante
• Conception automatisée et analyse schématique qui teste tous les circuits intégrés et semi-conducteurs et compare les contraintes électriques précédentes aux exigences des fiches techniques des composants
• Fournit une analyse complète des contraintes électriques et un déclassement pour éviter les contraintes excessives et la conception excessive
• Aide à sélectionner la taille / la cote optimale des composants pour la température de fonctionnement
• Calculez le MTBF et fournissez des données précises sur les contraintes électriques pour la vie (probabilité de pannes en fonction du temps) et la physique des pannes - PoF
• Modes de défaillance automatisés des composants et analyse de la sécurité (FMEA / FMECA / FTA)
• L'analyse comprend les pannes matérielles et logicielles électroniques
• Guider le plan de test de vérification final
• Générer automatiquement tous les rapports sur les normes CEI / ISO pour les autorités
• Rapports aux niveaux des composants, de la carte et du système aux premiers stades de la conception

Caractéristiques uniques:

• La nouvelle simulation est intégrée aux principaux outils E-CAD tels que Altium, OrCAD et Mentor
• Toutes les données liées à la simulation sont intégrées dans la base de données schématique, donc s'il y a un changement de conception, cela peut être fait facilement
• Les données sont organisées en bibliothèques pour une réutilisation facile

Voici un exemple d'erreur de conception qui a été identifiée à l'aide du logiciel de simulation de BQR:

Dans la figure ci-dessous, le transistor Q1 fournit une entrée numérique à la broche 40 de U1. Il doit être supérieur à 2,3 V pour la logique «1» et inférieur à 1,0 V pour la logique «0».
Mais Q1 fournit 1.052V que U1 interprètera par intermittence comme «1» ou «0».
Cette erreur de conception entraîne une fonctionnalité U1 instable qui est difficile à détecter et à isoler.