자동화된 전기적 스트레스 분석

빠른 스트레스 시뮬레이션

fiXtress Rapid는 논리 계산을 사용하여 개략적 회로 구성단계에서 불완전한 설계에 대해 논리적 연산에 기반한 계산을 자동적으로 수행함으로써, 다수의 엔지니어가 단일 설계에 대하여 동시에 작업할 수 있도록 합니다. 이 분석은 최종 BOM이 확정되기 전에 적절한 부품등급을 선정하는데 도움을 줍니다.

BOM 및 Netlist로 표시되는 회로도 설계는 부품의 전기적 스트레스를 계산하는데 사용됩니다. 전원 입력 조건을 설정하려면 신호접지 사양과 ICD 데이터도 필요합니다. 이러한 계산에서는 부품의 전기적 특성이 포함된 부품 데이터베이스가 사용됩니다. 이 데이터는 전력 손실, 전압 및 전류와 같은 DC 동작과 연관된 변수를 계산하는데 사용됩니다. 계산된 결과는 스트레스 경감 분석(SDA) 모듈에 제공됩니다.

정확한 스트레스 시뮬레이션

fiXtress Precise는 회로 시뮬레이션을 사용하여 검증 (사전 레이아웃) 단계에서 완벽한 설계를 위해 스트레스 분석을 자동적으로 수행합니다. BOM 이 확정된 후, 정확한 스트레스 계산이 수행되어 DC/DC 전원 공급 장치를 포함하여, 혼합 신호, 아날로그, 디지털 및 RF에 대한 전력 손실, 전압 및 전류와 같은 회로의 모든 구성 요소에 대한 실제 동작관련 변수를 제공합니다.
fiXtress Precise는 아날로그 회로에 대한 상태벡터를 사용하고, 디지털 회로에 대해서는 Bus 시뮬레이션을 사용합니다. 결과는 구성 요소 전력 손실에 따른 적절한 부품배치를 위한 가이드로 사용됩니다.
설계된 부품들에 대한 전기 스트레스 계산에서는 Kirchhoff 루프 및 Fourier 분석을 사용합니다. 이 계산은 부품유형에 따른 수십 개의 변수를 포함합니다. 또한 이 계산은 완제품 설계에서만 수행되며, 동작온도에서 최대 및 경감된 rating 대비 부품의 스트레스를 확인하고, 레이아웃 단계에서 열적 요소를 추가적으로 고려합니다.

 

사례:

1) 전기적 변수 규칙 검사
다음 유형의 오류는 통합 및 최종 테스트 중에, 심지어 대규모 RCA (근본 원인 분석)에 의해서도 검출하기가 매우 어렵습니다.
Mostly the analyst will blame the software, since nothing is burned but the product is not functioning correctly.

트랜지스터 Q1은 U1의 pin 40에 디지털 입력을 제공합니다. "1"로직의 경우 2.3V 이상, "0"로직의 경우 1.0V 미만이어야 합니다.

그러나 Q1은 1.052V를 제공하는데, U1은 한 번은 "1"로 이해하고 한 번은 "0"으로 이해하여 기능이 불안정할 것입니다.

fiXtress는 열분석을 위한 전기적 스트레스 데이터 생성

열 분석에서 가장 중요한 매개 변수 중 하나는 각 구성 요소에서 소비되는 실제 전력입니다. 이 전력은 fiXtress 회로 시뮬레이터에 의해 자동으로 계산되며 열 분석 도구에 제공될 수 있습니다. 일반적으로이 매개 변수는 열 엔지니어가 사용할 수 없으므로 데이터 시트에서 구성 요소 전력의 최대값을 사용합니다. 이 경우 이러한 결과는 최악의 결과이며, 이를 사용하면 과냉각 또는 더 높은 정격 값을 갖는 구성 요소를 가져 오는 등의 과도한 설계를 만들지만 (필요할 수도 있음) 때로는 비용과 물리적 크기를 불필요하게 증가시킵니다.

fiXtress 는 신뢰성 물리 (고장 물리) 예측을 위한 전기적 스트레스 데이터 생성

제품 신뢰성은 상이한 표준에 기반한 MTBF 또는 고장 물리 방법을 사용한 시간에 따른 고장률 분포에 의해 표현됩니다. 이러한 계산은 각 부품의 스트레스에 크게 영향을 받습니다. 이 경우 fiXtress는 정확한 스트레스를 제공함으로써, 결과적으로 더 정확한 신뢰도 계산이 가능해 집니다.

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